Akademik

- прибор для одноврем. регистрированиянаправления дифрагированного на исследуемом образце рентг. излучения иположения образца в момент возникновения дифракции. Р. г. может быть самостоят. прибором, регистрирующим на фотоплёнке или пластине с фотостимулиров. люминесценциейдифракц. картину; в этом случае он представляет собой рентгеновскуюкамеру. Р. г. называют также все гониометрич. устройства, являющиесясоставной частью рентгеновских дифрактометров и служащие для установленияобразца в положение, соответствующее условиям возникновения дифракциирентгеновских лучей, и детектора - в направлении дифрагиров. лучей.

В Р. г. с фоторегистрацией или с люминесцирующими пластинами для исследованиямонокристаллов или текстур выделяют дифракц. конус, соответствующий привращении образца исследуемой кристаллографич. плоскости в обратном пространстве. Фотоплёнка и образец движутся синхронно, поэтому одна из координат на плёнкесоответствует азимутальному углу дифрагиров. луча, вторая - углу поворотаобразца [так работают Р. г. Вайсенберга (рис. 1) и текстурный Р. г. Жданова].В Р. г. дифрактометров для монокристаллов может быть использована аналогичнаягеом. схема, однако угол поворота образца и углы поворота и наклона счётчикав этом случае отсчитываются непосредственно по угл. датчикам, установленнымна соответствующих валах. В случае использования двумерных позиционно-чувствит. детекторов в гониометре отсчитывается только угол поворота образца, а углыповорота и наклона дифрагиров. пучка пересчитываются из координат дифракц. пятна в детекторе. В рентг. дифрактометрах для исследования монокристаллови текстур с точечным счётчиком широко применяется т. н. экваториальнаягеометрия: счётчик перемещается только в одной экваториальной плоскости, а образец поворачивается вокруг трёх эйлеровых осей таким образом, чтобынормаль к заданной кристаллографич. плоскости в отражающем положении располагаласьв экваториальной плоскости (рис. 2).

Рис. 1. Схема рентгеновского гониометра типа Вайсенберга. Зубчатыепередачи и ходовой винт обеспечивают синхронное движение исследуемого образца(О) и цилиндрической кассеты (К) с рентгеновской плёнкой.

Рис. 2. Схема экваториального четырёхкружного гониометра для исследованиямонокристаллов. Лимб 1 измеряет Ф - угол поворота кристалла вокруг осигониометрической головки; лимб 2 регистрирует c - угол наклона оси Ф; лимб3 измеряет w - угол вращения кристалла относительно главной оси гониометра;лимб 4 измеряет угол поворота счётчика

В Р. г. для исследования монокристаллов на образец направляется пучокс сечением мм, сформированный коллиматором, состоящим из двух круглых диафрагм илидвух фокусирующих зеркал полного внеш. отражения (см. Рентгеновскаяоптика). Чаще всего излучение монохроматизируется с помощью монохроматораиз пиролитич. графита.

В Р. г. для исследования поликристаллич. образцов для повышения интенсивностидифракц. излучения используют первичные пучки с расходимостью в неск. градусов. Для получения высокого (в сотые и тысячные доли градуса) угл. разрешенияприменяются фокусирующие схемы Брэгга - Брентано, Зеемана - Болина илиГинье. Эти Р. г. являются двуосными, с двумя коаксиальными осями. Для формированияпучков в них используются щели, монохроматизация пучков осуществляетсяс помощью фокусирующих монохроматоров из монокристаллов или пиролитич. графита на первичном и дифрагиров. пучках, а также селективных фильтров.

В одноосных малоугловых Р. г. основой является щелевой коллиматор, обеспечивающиймин. расходимость первичного пучка. Особенность Р. г. для исследованияповерхностных слоев монокристаллов методом рентгеновских стоячих волн- наличие встроенного пропорц. счётчика электронов, анализирующегоэлектроны, выходящие из образца при дифракции рентг. лучей.

Лит.: Уманский М. М., Аппаратура рентгеноструктурных исследований, М., 1960; X е й к е р Д. М., Рентгеновская дифрактометрия монокристаллов, Л., 1973; Современная кристаллография, т. 1, М., 1979. Д. М. Хейкер.