Диоды полупроводниковые. Методы измерения дифференциального и динамического сопротивлений.
ОКС: 31.080.10
КГС: Э29 Методы испытаний. Упаковка. Маркировка
Взамен: ГОСТ 18986.14-75, ГОСТ 19656.8-74
Действие: С 01.07.86
Справочник ГОСТов. 2009.