Akademik

Направление и интенсивность вторичных пучков зависят от строения объекта, на котором рассеиваются. Кристалл является естественной трёхмерной дифракционной решёткой для рентгеновских лучей, т.к. длина волны рентгеновского излучения имеет такой же порядок, как и расстояние между рассеивающими центрами (атомами) в кристалле (~1?).

На явлении дифракции рентгеновских лучей основаны такие методы исследования как рентгеноструктурный анализ и порошковая рентгеновская дифракция. В основе рентгеноструктурного анализа лежит явление дифракции рентгеновских лучей на трехмерной кристаллической решетке отдельного монокристалла. Метод позволяет определять атомную структуру вещества, включающую в себя пространственную группу элементарной ячейки, ее размеры и форму, а также определить группу симметрии кристалла. Порошковая рентгеновская дифракция — метод исследования структурных характеристик материала при помощи дифракции рентгеновских лучей на порошке или поликристаллическом образце исследуемого материала. Результатом исследования является зависимость интенсивности рассеянного излучения от угла рассеяния. Метод позволяет определять качественный и полуколичественный состав образца, параметры элементарной ячейки образца, текстуру материала, размеры кристаллитов (области когерентного рассеяния) поликристаллического образца.

• Зайцев Дмитрий Дмитриевич, к.х.н.

1. X-ray_diffraction / Wikipedia, the Free Encyclopedia URL: http://en.wikipedia.org/wiki/X-ray_diffraction
2. Порошковая_рентгеновская_дифракция / Википедия URL: http://ru.wikipedia.org/wiki/Порошковая_рентгеновская_дифракция
3. Рентгеноструктурный анализ / Википедия URL: http://ru.wikipedia.org/wiki/Рентгеноструктурный_анализ
4. Дифракция рентгеновских лучей/Большая Советская Энциклопедия. - 3-е изд. 1969 - 1978 гг.