сканирующая электронная (растровая) микроскопия
Метод анализа поверхностной структуры микрообъекта путем анализа отраженного «электронного изображения» (как правило, при специальном напылении и с применением метода замораживания-высушивания freeze-etching, что позволяет повышать электронную плотность объекта и предотвращать деформации клеточных и др. структур).
Англо-русский толковый словарь генетических терминов. — М.: Изд-во ВНИРО. Арефьев В.А., Лисовенко Л.А., науч. ред. Л.И.Патрушев. 1995.