электронный микроскоп
[electron microscope] — микроскоп для наблюдения и фотографирования многократного (до 106 раз) увеличенного изображения объекта, в котором вместо световых лучей используются пучки электронов, ускоренных до больших энергий (30 — 100 кэВ и более) в условиях глубокого вакуума (10+10 Па). В 1928 г. немецкие ученые М. Кнолль и Р. Руске приступили к созданию первого магнитного просвечивающего электронного микроскопа (ПЭМ) и спустя три года получили изображение объекта, сформированного пучками электронов. Разрешающая способность (PC) современного ПЭМ составляет 0,2 — 1,0 нм. Толщина, которую можно «просветить» электронным пучком, зависит от ускоряющего напряжения. В электронном микроскопе с напряжением 100 кВ изучают объекты толщиной от одного до нескольких сотен нанометров.
Смотри также:
— Микроскоп
— эмиссионный электронный микроскоп
— световой микроскоп
— ионный микроскоп
— просвечивающий растровый электронный микроскоп (ПРЭМ)
— растровый электронный микроскоп (РЭМ)
— автоионный микроскоп (ионный проектор)
Энциклопедический словарь по металлургии. — М.: Интермет Инжиниринг.
Главный редактор Н.П. Лякишев.
2000.