микроскоп">
Рис. I. Принципиальная схема металлографического микроскопа: 1 — шлиф; 2 - лампа) света; 4 — коллекторная линза; 5 - апсртурная диафрагма; 6, 8 — вспомогательные линзы; 7 — полевая диафрагма; 9 — полупрозрачная пластина; 10 — окуляр; 11 — глаз наблюдателя
Большинство микрофафических исследований проводят с применением светло-польного (вертикального) освещения. Для дополнительного повышения контрастности изображения применяют другие виды освещения: метод косого освещения (в создании изображения участвуют преимущественно косые лучи, непараллельные оптической оси системы), который применяется при достаточно резком рельефе поверхности шлифа; метод темнопольного освещения (свет не проходит через объектив и формирует темнопольное изображение, являющееся обратным по отношению к светлопольному — углубления и РЭМ. Их PC достигает 0,3 — 0,5 нм. Созданы также сверхвысоковольтные электронные микроскопы (СВЭМ) высотой от 5 до 15 м с ускоренным напряжением 0,5-0,65; 1-1,5 и 3 MB, предназначенные для исследуемых объектов толщиной до 10 мкм. PC СВЭМ в 10-20 раз превосходит PC 100-кВ ПЭМ.
Смотри также:
— Микроскоп
— эмиссионный электронный микроскоп
— электронный микроскоп
— ионный микроскоп
— просвечивающий растровый электронный микроскоп (ПРЭМ)
— растровый электронный микроскоп (РЭМ)
— автоионный микроскоп (ионный проектор)
Энциклопедический словарь по металлургии. — М.: Интермет Инжиниринг. Главный редактор Н.П. Лякишев. 2000.